• Strona główna AGH
  • AGH Main Page
 
Szukaj w systemie LAB

<< wszystkie laboratoria w jednostce

Laboratorium Skaningowej Mikroskopii Elektronowej i Mikroanalizy Rentgenowskiej


aparatura
Miejsce usytuowania:
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów
B-4
  Rodzaj laboratorium:
Laboratorium naukowo-dydaktyczne
Możliwości dydaktyczne:
Liczba stanowisk dydaktycznych: 12
Średnia liczba studentów/rok: 230
Średnie godzinowe obciążenie w tygodniu: 5
Działalność dydaktyczna i naukowa:
Kierunek studiów: Inżynieria Materiałowa
Rok studiów: 1, 3, 4, 5
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej



Możliwości badawcze/pomiarowe:
Mikroskop skaningowy, znajdujący się w pracowni pozwala na prowadzenie obserwacji powierzchni następujących preparatów:
• przewodzących elektrycznie - po uprzednim odtłuszczeniu;
• nieprzewodzących (izolatory) - wymagają pokrycia cienką warstwą węgla lub metalu, celem zmniejszenia elektryzowania się preparatu oraz zwiększenia emisji elektronów wtórnych;
• biologicznych - technika przygotowania preparatów sprowadza się do utrwalania suszenia w punkcie krytycznym oraz pokrycia próbki cienką warstwą (10 nm) złota.
Wykorzystując mikroskop skaningowy prowadzi się obserwacje z wykorzystaniem kontrastu topograficznego – SE i kontrastu opartego na różnicy liczb atomowych poszczególnych pierwiastków struktury – BSE.
Zaletą techniki obserwacji za pomocą SEM jest to, że wiele próbek można oglądać bez specjalnego przygotowywania. Wymiary badanych preparatów ograniczone są jedynie konstrukcją komory próbek. Rejestracji obrazów badanych preparatów dokonuje się przy pomocy cyfrowego układu detekcji. Program dostarczony przez producenta umożliwia obserwację, obróbkę i archiwizację obrazów, ich wydruk, rejestrację na dowolnym nośniku, bądź przesłanie obrazów pocztą internetową.
Za pomocą przystawki EDS (spektrometr energo-dyspersyjny firmy NORAN) możliwa jest analiza składu chemicznego obserwowanych preparatów (analiza ilościowa, półilościowa i jakościowa). Program dostarczony przez producenta pozwala na wykonanie analiz dla wybranych elementów struktury, w zadanym obszarze oraz wzdłuż zadanej linii. Możliwe jest również wykonanie map rozmieszczenia w strukturze poszczególnych pierwiastków.
Mikroanalizatory rentgenowskie CAMEBAX i CAMECA umożliwiają analizę składu chemicznego preparatów w wybranych mikroobszarach za pomocą spektrometrów WDS.
Oferta usługowa:
Obserwacje preparatów (przewodzących lub nieprzewodzących naparowanych warstwą materiału przewodzącego) za pomocą mikroskopu skaningowego oraz analiza składu chemicznego próbek zgodnie ze specyfikacją urządzeń. Możliwość nakładania za pomocą napylarek cienkich przewodzących warstw o różnej grubości.
Osoba kontaktowa:
Prof. dr hab. inż. Jan KUSIŃSKI
Tel. 048 12 617 33 44
e-mail: kusinski@uci.agh.edu.pl

All rights reserved (c) 2013 Akademia Górniczo-Hutnicza