• Strona główna AGH
  • AGH Main Page
 
Szukaj w systemie LAB

<< wszystkie laboratoria w jednostce

Laboratorium Krystalografii i Rentgenografii


aparatura
Miejsce usytuowania:
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków
A2
  Rodzaj laboratorium:
Laboratorium naukowo-dydaktyczne
Możliwości dydaktyczne:
Liczba stanowisk dydaktycznych: 7
Średnia liczba studentów/rok: 180
Średnie godzinowe obciążenie w tygodniu: 9
Działalność dydaktyczna i naukowa:
III Inżynieria Materiałowa WIMiIP
V MET WIMiIP
II MET WIMiIP
IV FCS WFiIS

Możliwości badawcze/pomiarowe:
Urządzenia pozwalające wykonywać jakościowe i ilościowe analizy fazowe (skład mineralogiczny) oraz pomiary naprężeń makroskopowych i mikroskopowych, tekstur metodami dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego oraz pomiary stopnia uporządkowania w nadstrukturach.

Techniki pomiarowe:
Wyznaczanie parametrów komórki elementarnej
• precyzyjne pomiary stałych sieciowych z dokładnością ±2x10-4 nm
• indeksowanie dyfraktogramów (rentgenowska analiza struktury)

Orientacja monokryształów
• wykonywanie zdjęć monokryształów metodą Lauego
• wyznaczanie orientacji monokryształów
• wycinanie monokryształów o żądanej orientacji

Rentgenowska analiza fazowa (w geometrii Bragg-Brentano i przy stałym kącie padania)
• jakościowa analiza fazowa (skład mineralogiczny)
• ilościowa analiza fazowa
• ilościowa analiza fazowa materiałów steksturowanych

Dyfrakcyjna analiza nadstruktur
• identyfikacja fazowa nadstruktur
• pomiar stopnia uporządkowania w nadstrukturach

Analiza profilu linii dyfrakcyjnej – analiza obrazu dyfrakcyjnego – metoda Ritvelda
• aproksymacja profilu linii dyfrakcyjnej
• wyznaczanie wielkości krystalitów
• pomiar zniekształceñ sieciowych
• dyfrakcyjne badania materiałów nanokrystalicznych i amorficznych

Pomiar makronaprężeń własnych
• pomiary metodą sin2 w geometrii „ψ”, ”ω” oraz w geometrii stałego kąta padania (grazing incidence- metoda g- sin2 ψ)

Pomiar tekstur krystalograficznych
• pomiar tekstur metodą Schultz'a
• pomiar zwykłych i odwrotnych figur biegunowych
• obliczanie funkcji rozkładu orientacji (FRO) i odwrotnych figur biegunowych
• ilościowa analiza udziału różnych składowych tekstur


Aparatura jest wykorzystywana do dydaktyki, do prowadzenia badań własnych, wykonywania pomiarów w ramach realizowanych prac magisterskich i doktorskich oraz habilitacyjnych. Dla innych jednostek aparatura wykorzystana w ramach współpracy naukowej, zleceń oraz grantów krajowych i międzynarodowych.
Oferta usługowa:
Zakres badań możliwych do realizacji w Pracowni Krystalografii i Rentgenografii szczególnie stanowią:
• Ilościowa i jakościowa analiza fazowa (mineralogiczna)
• Precyzyjny pomiar parametrów sieci krystalicznej
• Pomiar tekstur krystalograficznych
• Wyznaczanie naprężeń własnych (mikroskopowych i makroskopowych)
• Wyznaczanie orientacji krystalograficznej monokryształów
• Pomiar wielkości krystalitów (wielkość ziarna)
• Badanie cienkich warstw i powłok
• Badanie nadstruktur, pomiar stopnia uporządkowania
• Analiza współczynników anizotropii krystalograficznej
Osoba kontaktowa:
Dr hab. inż. Stanisław Skrzypek-prof. AGH
e-mail: skrzypek@uci.agh.edu.pl
tel: 0-126172628
Dr inż. Adam Bunsch abunsch@uci.agh.edu.pl , tel :126173028

All rights reserved (c) 2013 Akademia Górniczo-Hutnicza